聂荣臻元帅讲：科技要发展、计量须先行。在中国计量测试学会成立六十周年暨纪念“5.20世界计量日”系列活动上面向社会公开发布了计量测试领域“重大科学问题和工程技术难题”、“科创中国先导技术榜单”和两项团体标准。

计量测试领域“重大前沿科学问题与工程技术难题”

“如何解决集成电路制造工艺中缺陷在线检测难题 ”入选2020年中国科协“十大工程难题”。集成电路领域作为国际科技竞争的主战场和大国博弈的焦点，最先进技术设备仍被少数国家垄断，世界范围内7nm及以内节点的缺陷在线检测技术仍未成熟，突破下一代节点集成电路制造缺陷在线检测技术能够打破技术封锁，将解决“卡脖子”难题，为交叉领域科技发展产生重大影响力和引领推动作用。

“极端复杂环境下测量技术”入选2019年中国科协“前五十五大问题难题”。目前由于核心元器件、传感器受到国外限制，测量精度、范围尚不能满足未来航天产品的要求，亟需开展航天极端环境测试技术研究，准确获取状态参数，用以支撑未来航天事业的发展。

“芯片三维纳米结构关键尺寸准确计量难题”入选2020年中国科协“前七十九大问题难题”及2019 年中国科协信息科技学会联合体“信息技术领域十大前沿热点问题”。当前我国缺少自己的芯片及集成电路量值溯源体系，芯片三维纳米结构关键尺寸无法校准溯源。随着芯片制造技术的不断进步，突破芯片三维纳米结构关键尺寸计量的技术瓶颈将会打破少数发达国家的技术垄断，解决困扰芯片性能进一步发展的瓶颈问题，实现自主创新。

“非正交轴系三维激光测量仪器”入选2019 年中国科协信息科技学会联合体“信息技术领域十大前沿热点问题”。突破其传统正交轴系结构的限制，创新提出了非正交轴系架构的概念，开展了坐标测量原理、方法和一系列关键技术研究。此研究不仅为实现常规尺寸空间、大尺寸空间的现场、自动、精密测量探索了新路，也为国家重大技术装备制造提供技术支撑。

计量测试领域“科创中国先导技术榜单”

 “大长径比纳米探针可控制备技术及应用”入选2020年科创中国先导技术榜单。针对半导体芯片中大深宽比微纳结构的测量难题，提出了两种大长径比纳米探针可控制备方法，通过可控制备高性能大长径比碳纳米管探针，并代替原子力探针，显著提高了分辨能力，综合性能更优，有力促进了纳米测量仪器的自主创新发展。

中国计量测试学会团体标准

眼镜验光配镜行业服务质量规范--为贯彻落实习近平总书记就儿童青少年近视高发问题作出的重要指示精神，学会立项并会同中国质量检验协会眼镜质量检验与视光学专业委员会制定了《眼镜验光配镜服务质量规范》团体标准。该标准确定了验光配镜规范性要求，创新性地提出了眼镜验配检验数据要求，对数据比对做出规定，可有效改善我国眼镜验配无检测数据的现状。该标准的发布实施，将对促进眼镜制配质量，对防控青少年近视发挥重要的积极作用。

移动终端摄像系统光电性能和图像质量评测方法--为加快国内相关影像测评方法和拓展应用评价体系建设，推动质量测试技术发展，学会制定《移动终端摄像系统光电性能和图像质量评测方法》。该标准建立了影像实验室评测环境和使用方法规范，增加了不同测试条件和终端配置指标，建立了一套完整、规范而使用的评价体系，可帮助企业、制造商及运营商和电商等销售实体使用该项团标作为评估依据，对提升手机等移动终端图像质量发挥重要的技术保障和引领作用。

名单如下：

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